●精準(zhǔn)探測(cè) · 突破極限 · 洞察無(wú)形
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展，對(duì)材料分析和缺陷檢測(cè)的要求也越來(lái)越高。紅外顯微鏡作為一種非破壞性檢測(cè)工具，在半導(dǎo)體行業(yè)中發(fā)揮著重要作用。華顯光學(xué)LM-150紅外顯微鏡，搭載先進(jìn)紅外光譜技術(shù)，以非侵入式、高靈敏度檢測(cè)能力，讓不可見(jiàn)變?yōu)榭梢?jiàn)，解鎖物質(zhì)成分、結(jié)構(gòu)及動(dòng)態(tài)的深層奧秘。
工作原理
?光源發(fā)射：紅外光源發(fā)射出特定波長(zhǎng)的紅外光。
?樣品照射：紅外光穿透樣品，與樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)相互作用。
?信號(hào)接收：探測(cè)器接收透過(guò)樣品的光信號(hào)。
? 圖像生成：通過(guò)計(jì)算機(jī)處理，生成樣品的紅外圖像。
核心優(yōu)勢(shì)
? 高靈敏度成像：突破光學(xué)衍射極限，納米級(jí)分辨率呈現(xiàn)微觀結(jié)構(gòu)與化學(xué)成分分布。
? 非破壞性檢測(cè)：無(wú)需復(fù)雜制樣，保持樣品原始狀態(tài)，尤其適合珍貴或敏感樣本。
? 智能分析系統(tǒng)：AI輔助光譜解析，一鍵生成成分圖譜，科研效率提升50%+。
? 廣泛適用性：支持固體、液體、薄膜等多種形態(tài)樣品，兼容反射、透射及ATR模式。
常規(guī)可見(jiàn)光顯微鏡圖像 LM-150 IR 紅外無(wú)損穿透
應(yīng)用場(chǎng)景
? 材料科學(xué)：高分子材料缺陷分析、半導(dǎo)體器件微區(qū)成分檢測(cè)
? 生物醫(yī)學(xué)：細(xì)胞代謝成像、藥物分布可視化、病理組織快速篩查
? 環(huán)境監(jiān)測(cè)：微塑料識(shí)別、污染物溯源、土壤礦物成分鑒定
? 文物保護(hù)：古畫(huà)顏料分析、文物修復(fù)無(wú)損評(píng)估
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