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P系列顯微鏡-擁有完美的光學(xué)系...
P系列顯微鏡-擁有完美的光學(xué)系統(tǒng)和新一代的光學(xué)技術(shù)并內(nèi)置明場、暗場、偏光、微分干涉(DIC)等多種觀察方式。偏光可用于顯示材料的紋理和晶體樣貌，其非常適合檢測晶片和LCD結(jié)構(gòu)；微分干涉差(DIC)用于幫助觀察具有細微高度差異的樣品，該技術(shù)非常適合用于檢測諸如磁頭、硬盤介質(zhì)、以及拋光晶片等具有很小高度差的樣品；暗場是檢測標本上細微劃痕或缺陷以及晶片等鏡面樣品的理想工具。
